Polski English
Ośrodek Informacji Patentowej BG AGH Kraków

Wzory użytkowe - gdzie i jak szukać



ikonka baz danych
Objaśnienia: źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
Nazwa e-źródła: Zawartość
DEPATISNET Baza Niemieckiego Urzędu Patentowego zapewnia dostęp do niemieckiej dokumentacji patentowej (patenty i wzory użytkowe), dokumentacji międzynarodowej, oraz kolekcji krajowych, w tym także polskiej. Wyszukiwanie poprzez słowa kluczowe należy prowadzić w oryginalnym języku dokumentów.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO GLOBAL PATENT INDEX Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło pełnotekstowe
EPO Espacenet Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...

ikonka konferencji Materiały konferencyjne (czerwiec 2016):
- Espacenet
- Common Citation Document
        - EPO Register
        więcej...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO PATSTAT Patent statistics informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło faktograficzne
InPro Badania Baza zawiera informacje na temat polskich wynalazków, wzorów użytkowych, wzorów przemysłowych oraz znaków towarowych. Aktualizowana jest na bieżąco, a wszystkie informacje pochodzą z oficjalnych źródeł Urzędu Patentowego RP. informacja o źródle źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
IP Lib Wietnamskie patenty, wzory użytkowe oraz znaki towarowe. źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
J-PlatPat Japońskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
KIPRIS Koreańskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
ORBIT Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z ponad 70 urzędów patentowych z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...


ikonka konferencji Materiały konferencyjne (wrzesień 2017):
- Training advanced search
- ANALYSIS training
        więcej...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
REGISTER PLUS Polskie wynalazki (patenty i wzory użytkowe).
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
SIPO Chińskie patenty i wzory użytkowe.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
TIPO Tajwańskie patenty, wzory użytkowe oraz wzory przemysłowe. źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
UPRP Wyszukiwarka przedmiotów chronionych Polskie wynalazki (patenty, wzory użytkowe), znaki towarowe, wzory przemysłowe i zdobnicze, oznaczenia geograficzne, topografie układów scalonych.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
WIPO Lex Baza Światowej Organizacji Własności Intelektualnej (WIPO) zawierająca, na bieżąco aktualizowany, zbiór obowiązujących aktów prawnych z zakresu ochrony własności intelektualnej, m.in. teksty ustaw, rozporządzeń, zarządzeń, traktatów poszczególnych państw członkowskich oraz umów międzynarodowych administrowanych przez WIPO... więcej... źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
© Regionalny Ośrodek Informacji Patentowej (Kraków) - Ostatnia aktualizacja -