PolskiEnglish
Ośrodek Informacji Patentowej
ulotka informacyjna (ang, pol)
plakat

Wzory użytkowe - podstawowe informacje



Gdzie i jak szukać

Objaśnienia: źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
Nazwa e-źródła: Zawartość
DEPATISNET baza Niemieckiego Urzędu Patentowego zapewnia dostęp do niemieckiej dokumentacji patentowej (patenty i wzory użytkowe), dokumentacji międzynarodowej, oraz kolekcji krajowych, w tym także polskiej. Wyszukiwanie poprzez słowa kluczowe należy prowadzić w oryginalnym języku dokumentów.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO GLOBAL PATENT INDEX wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło pełnotekstowe
EPO Espacenet wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
Materiały konferencyjne (czerwiec 2016): więcej...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO PATSTAT patent statistics informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło faktograficzne
InPro Badania baza zawiera informacje na temat polskich wynalazków, wzorów użytkowych, wzorów przemysłowych oraz znaków towarowych. Aktualizowana jest na bieżąco, a wszystkie informacje pochodzą z oficjalnych źródeł Urzędu Patentowego RP. informacja o źródle źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
J-PlatPat japońskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
KIPRIS koreańskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
ORBIT wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z ponad 70 urzędów patentowych z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
REGISTER PLUS polskie wynalazki (patenty i wzory użytkowe).
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
SIPO chińskie patenty i wzory użytkowe.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
UPRP Wyszukiwarka przedmiotów chronionych polskie wynalazki (patenty, wzory użytkowe), znaki towarowe, wzory przemysłowe i zdobnicze, oznaczenia geograficzne, topografie układów scalonych.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
WIPO Lex baza przepisów prawnych z dziedziny prawa wynalazczego, m.in. teksty układów administrowanych przez WIPO, konwencje EPO, teksty ustaw obowiązujących
w poszczególnych krajach.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe

  wstecz co jest czym na opisie wzoru użytkowego                                            materiały konferencyjne dalej


© Regionalny Ośrodek Informacji Patentowej (Kraków) - Ostatnia aktualizacja -