PolskiEnglish
Ośrodek Informacji Patentowej

Patenty - gdzie i jak szukać


ikonka baz danych

Wyszukiwanie opisów patentowych prowadzi się w różny sposób, w zależności od tego, w jakim stopniu jesteś zainteresowany tego typu informacją. Krótko mówiąc, istotne jest to, czy jesteś wynalazcą (chcesz sprawdzić czy przypadkiem ktoś inny nie był szybszy od Ciebie) czy jesteś studentem i szukasz trzech przykładowych patentów ("na zaliczenie").

Jeżeli po raz pierwszy szukasz patentów i NIE MASZ POJĘCIA JAK SIĘ DO TEGO ZABRAĆ najlepiej odwiedź nas lub zadzwoń.

Objaśnienia: źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
Nazwa e-źródła: Zawartość
article 6ter Godła państwowe oraz emblematy, nazwy, skróty międzynarodowych i międzyrządowych organizacji. źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe
ASEAN Patentscope Wynalazki państw członkowskich Stowarzyszenia Narodów Azji Południowo-Wschodniej (ang. Association of Southeast Asian Nations, ASEAN).
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe
DEPATISNET Baza Niemieckiego Urzędu Patentowego zapewnia dostęp do niemieckiej dokumentacji patentowej (patenty i wzory użytkowe), dokumentacji międzynarodowej, oraz kolekcji krajowych, w tym także polskiej. Wyszukiwanie poprzez słowa kluczowe należy prowadzić w oryginalnym języku dokumentów.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO GLOBAL PATENT INDEX Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło pełnotekstowe
EPO Espacenet Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...

ikonka konferencji Materiały konferencyjne (czerwiec 2016):
- Espacenet
- Common Citation Document
        - EPO Register
        więcej...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO PATSTAT Patent statistics. informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło faktograficzne
freepatentsonline Wyszukiwarka patentów i zgłoszeń US, dokumentacji EP i WIPO (PCT) oraz abstraktów JP. źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
Google Patent Search Wyszukiwarka patentów USA; około 7 milionów dokumentów; zawiera dane od 1776 roku. źródło ogólnodostępne źródło pełnotekstowe
inPASS Indyjskie patenty źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
InPro Badania Baza zawiera informacje na temat polskich wynalazków, wzorów użytkowych, wzorów przemysłowych oraz znaków towarowych. Aktualizowana jest na bieżąco, a wszystkie informacje pochodzą z oficjalnych źródeł Urzędu Patentowego RP. informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
IP Lib Wietnamskie patenty, wzory użytkowe oraz znaki towarowe. źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
J-PlatPat Japońskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
KIPRIS Koreańskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
ORBIT Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z ponad 70 urzędów patentowych z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...

ikonka konferencji Materiały konferencyjne (wrzesień 2017):
- Training advanced search
- ANALYSIS training
        więcej...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
PATENTSCOPE Umożliwia dostęp do pełnych teksów zgłoszeń patentowych dokonanych w trybie PCT (WO). Baza oferuje kilka dodatkowych funkcji:
- funkcję graficznego przedstawienie wyników wyszukiwania wg lat publikacji, zgłaszającego, kraju oraz podklas MKP więcej...
- funkcję RSS (Really Simple Syndication) więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych (zgłoszenia PCT), (zgłoszenia PCT w fazach krajowych).
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
REGISTER PLUS Polskie wynalazki (patenty i wzory użytkowe).
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
SIPO Chińskie patenty i wzory użytkowe.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
TIPO Tajwańskie patenty, wzory użytkowe oraz wzory przemysłowe. źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
UPRP Wyszukiwarka przedmiotów chronionych Polskie wynalazki (patenty, wzory użytkowe), znaki towarowe, wzory przemysłowe i zdobnicze, oznaczenia geograficzne, topografie układów scalonych.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
USPTO Amerykańskie wynalazki (patenty) i znaki towarowe. United States Patent and Trademark Office (USPTO) oferuje na swojej stronie dostęp do kilku bibliograficznych i pełnotekstowych baz danych patentowych i znaków towarowych; pełnotekstowa baza patentów amerykańskich obejmuje dokumenty od 1790 roku. Możliwość wyszukiwania przez wszystkie słowa z tekstów patentów od 1976 roku. Patenty z lat 1790-1976 można wyszukiwać tylko przez numer patentu i amerykańską klasyfikację.
Do przeglądania dokumentów konieczne jest zainstalowanie Alterna TIFF plug-in ze strony www.alternatiff.com
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
Web of Science (Derwent Innovations Index) Baza interdyscyplinarna zawierająca indeksy cytowań bibliograficznych. W ramach licencji krajowej (pakiet Citation Connection) w zakładce "All Databases" jest dostępna m.in. bibliograficzno-abstraktowa baza patentowa Derwent Innovations Index. informacja o źródle źródło licencyjne źródło bibliograficzno-abstraktowe
WIPO Lex Baza Światowej Organizacji Własności Intelektualnej (WIPO) zawierająca, na bieżąco aktualizowany, zbiór obowiązujących aktów prawnych z zakresu ochrony własności intelektualnej, m.in. teksty ustaw, rozporządzeń, zarządzeń, traktatów poszczególnych państw członkowskich oraz umów międzynarodowych administrowanych przez WIPO... więcej... źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe

© Regionalny Ośrodek Informacji Patentowej (Kraków) - Ostatnia aktualizacja -