PolskiEnglish
Ośrodek Informacji Patentowej

Patenty - podstawowe informacje



Gdzie i jak szukać

Wyszukiwanie opisów patentowych prowadzi się w różny sposób, w zależności od tego, w jakim stopniu jesteś zainteresowany tego typu informacją. Krótko mówiąc, istotne jest to, czy jesteś wynalazcą (chcesz sprawdzić czy przypadkiem ktoś inny nie był szybszy od Ciebie) czy jesteś studentem i szukasz trzech przykładowych patentów ("na zaliczenie").

Jeżeli po raz pierwszy szukasz patentów i NIE MASZ POJĘCIA JAK SIĘ DO TEGO ZABRAĆ najlepiej odwiedź nas lub zadzwoń.

Objaśnienia: źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło polskojęzyczne
informacja o źródle
źródło licencyjne
źródło licencyjne o ograniczonym dostępie
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
źródło ogólnodostępne
źródło pełnotekstowe
źródło bibliograficzno-abstraktowe
źródło faktograficzne
źródło bibliograficzne
Nazwa e-źródła: Zawartość
article 6ter Godła państwowe oraz emblematy, nazwy, skróty międzynarodowych i międzyrządowych organizacji. źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe
DEPATISNET Baza Niemieckiego Urzędu Patentowego zapewnia dostęp do niemieckiej dokumentacji patentowej (patenty i wzory użytkowe), dokumentacji międzynarodowej, oraz kolekcji krajowych, w tym także polskiej. Wyszukiwanie poprzez słowa kluczowe należy prowadzić w oryginalnym języku dokumentów.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO GLOBAL PATENT INDEX Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło pełnotekstowe
EPO Espacenet Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z całego świata.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...

ikonka konferencji Materiały konferencyjne (czerwiec 2016):
- Espacenet
- Common Citation Document
        - EPO Register
        więcej...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
EPO PATSTAT Patent statistics. informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło faktograficzne
freepatentsonline Wyszukiwarka patentów i zgłoszeń US, dokumentacji EP i WIPO (PCT) oraz abstraktów JP. źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
Google Patent Search Wyszukiwarka patentów USA; około 7 milionów dokumentów; zawiera dane od 1776 roku. źródło ogólnodostępne źródło pełnotekstowe
InPro Badania Baza zawiera informacje na temat polskich wynalazków, wzorów użytkowych, wzorów przemysłowych oraz znaków towarowych. Aktualizowana jest na bieżąco, a wszystkie informacje pochodzą z oficjalnych źródeł Urzędu Patentowego RP. informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
J-PlatPat Japońskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
KIPRIS Koreańskie patenty i wzory użytkowe.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
ORBIT Wynalazki (patenty, wzory użytkowe) z ponad 70 urzędów patentowych z całego świata: Austria, Francja, Niemcy, Włochy, Japonia, Polska, Szwecja, USA... więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło licencyjne o ograniczonym dostępie źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
PATENTSCOPE Umożliwia dostęp do pełnych teksów zgłoszeń patentowych dokonanych w trybie PCT (WO). Baza oferuje kilka dodatkowych funkcji :
- funkcję graficznego przedstawienie wyników wyszukiwania wg lat publikacji, zgłaszającego, kraju oraz podklas MKP więcej...
- funkcję RSS (Really Simple Syndication) więcej...
Zasięg bazy: aktualizacja danych (zgłoszenia PCT), (zgłoszenia PCT w fazach krajowych).
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
REGISTER PLUS Polskie wynalazki (patenty i wzory użytkowe).
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe
SIPO Chińskie patenty i wzory użytkowe.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło bibliograficzne
UPRP Wyszukiwarka przedmiotów chronionych Polskie wynalazki (patenty, wzory użytkowe), znaki towarowe, wzory przemysłowe i zdobnicze, oznaczenia geograficzne, topografie układów scalonych.
Zasięg bazy: aktualizacja danych ...
informacja o źródle źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło polskojęzyczne
USPTO Amerykańskie wynalazki (patenty) i znaki towarowe. United States Patent and Trademark Office (USPTO) oferuje na swojej stronie dostęp do kilku bibliograficznych i pełnotekstowych baz danych patentowych i znaków towarowych; pełnotekstowa baza patentów amerykańskich obejmuje dokumenty od 1790 roku. Możliwość wyszukiwania przez wszystkie słowa z tekstów patentów od 1976 roku. Patenty z lat 1790-1976 można wyszukiwać tylko przez numer patentu i amerykańską klasyfikację.
Do przeglądania dokumentów konieczne jest zainstalowanie Alterna TIFF plug-in ze strony www.alternatiff.com
źródło ogólnodostępne źródło bibliograficzno-abstraktowe źródło pełnotekstowe
WIPO Lex Baza przepisów prawnych z dziedziny prawa wynalazczego, m.in. teksty układów administrowanych przez WIPO, konwencje EPO, teksty ustaw obowiązujących
w poszczególnych krajach.
źródło ogólnodostępne źródło faktograficzne źródło pełnotekstowe

  wstecz co jest czym na opisie patentowym                                                materiały konferencyjne dalej


© Regionalny Ośrodek Informacji Patentowej (Kraków) - Ostatnia aktualizacja -